A . 主要包括远端环回测试和负荷环回测试两种方式
B . 远端环回：进入芯片就环回回去，不做任何处理
C . 负荷环回：信号进入到芯片内部，经过编解码后再环回出去
D . 远端环回：进入芯片就环回回去，但要做一些简单处理。