在磁粉探伤时，缺陷处所产生的漏磁通的大小与缺陷的几何形状和方向有关_中级无损检测技术资格人员_全学科试题题库

当前学科：中级无损检测技术资格人员

题目：判断题
在磁粉探伤时，缺陷处所产生的漏磁通的大小与缺陷的几何形状和方向有关
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