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当前学科：无损探伤工（初级）
题目：
单选
CSK-IA试块将IIW试块的φ50孔改为φ40、φ44和φ50台阶孔，其目的是（）
A . 测定斜探头K值
B . 测定直探头盲区范围
C . 测定斜探头分辨率
D . 以上全部
答案：
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