A受检物体尺寸大于FOV的大小，FOV外的组织信号将折叠到图像另一侧
B卷褶伪影通常出现在相位编码方向上
C卷褶伪影通常出现在频率编码方向上
D增大FOV可有效避免卷褶伪影
E在相位编码上过度采样能避免褶伪影
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