由N=D2/4λ可知晶片尺寸增加，近场区长度迅速增加，（）。_初级无损检测技术资格_全学科试题题库

当前学科：初级无损检测技术资格

题目：单选
由N=D²/4λ可知晶片尺寸增加，近场区长度迅速增加，（）。
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