单晶片直探头接触法探伤中，与接触面十分接近的缺陷往往不能有效地检出这是因为（）。_无损探伤工（初级）_全学科试题题库

当前学科：无损探伤工（初级）

题目：单选
单晶片直探头接触法探伤中，与接触面十分接近的缺陷往往不能有效地检出这是因为（）。
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