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当前学科：无损探伤工（初级）
题目：
单选
单晶片直探头接触法探伤中，与接触面十分接近的缺陷往往不能有效地检出这是因为（）。
A . 近场干扰
B . 材质衰减
C . 盲区
D . 选择范围
答案：
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