半导体产品的烤机试验，将产品暴露在高温下，来强制缺陷发生，这种可靠性试验属于（）_质量管理学_全学科试题题库

当前学科：质量管理学

题目：单选
半导体产品的烤机试验，将产品暴露在高温下，来强制缺陷发生，这种可靠性试验属于（）
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可乐定的主要不良反应（）。

患儿男，2岁，7月下旬因发热2天，头痛，呕吐3次，稀便1次入院。曾在外肌内注射青霉素2天，病情无好转。患儿来自农村。体检：嗜睡状，颈稍有抵抗，心、肺无异常，克氏征、布氏征均阳性，腹壁反射及提睾反射减弱。脑脊液压力高，外观清亮，细胞数320×106/L；中性粒细胞0.40，淋巴细胞0.60，蛋白0.6g/L，糖及氯化物正常。下列治疗中，不必要的措施是（）

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