单晶片直探头接触法探伤中，与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出，这是因为：（）_无损检测技术资格人员考试_全学科试题题库

当前学科：无损检测技术资格人员考试

题目：单选
单晶片直探头接触法探伤中，与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出，这是因为：（）
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