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当前学科：无损检测技术资格人员考试
题目：
单选
CSK-IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40、Φ44、Φ50台阶孔，其目的是（）
A . A、测定斜探头K值
B . B、测定直探头盲区范围
C . C、测定斜探头分辨力
D . D、以上全是
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