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当前学科:初级无损检测技术资格
题目:
单选
射线探伤时,使用像质计的主要目的是()。
A . 测量缺陷的大小
B . 测量缺陷的位置
C . 测量缺陷的几何不清楚度
D . 确定底片的彩像质量
答案:
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